
2020年第三届电子与电气工程技术国际会议(EEET 2020)
- 会议时间:2020-09-27 至 2020-09-29
- 会议地点: 日本 九州工业大学-Tobata校区 日本北九州市十bat区浅水町1-1 周边酒店预订
- 会议规模: 暂无
- 主办单位: CBEES - Chemical, Biological & Environmental Engineering Society
发票类型:
增值税专用发票,增值税普通纸质发票,增值税普通电子发票
发票内容:会议费,会务费,会议服务费
领取方式:会后快递,现场领取
参会凭证:二维码电子票,凭个人报名信息签到
2020年第三届电子与电气工程技术国际会议(EEET 2020)将于2020年9月27日至29日在日本北九州举行。会议涵盖以下主题:
微电子系统,电子材料,专用集成电路(ASIC)的设计和实现,片上系统(SoC)和使用CAD工具的电子仪器,射频集成电路设计(RFIC),模拟集成电路设计,混合信号集成电路设计。
电子产品:
电力工程:
控制和计算机系统:
发电,输配电,电力电子,电能质量,电力经济,FACTS,可再生能源,电力牵引,电磁兼容性,电气工程材料,高压绝缘技术,高压仪器,雷电检测和保护,电力系统分析, SCADA,电气测量。
电信工程:
最优,鲁棒和自适应控制,非线性和随机控制,建模和识别,机器人技术,基于图像的控制,混合和切换控制,过程优化和调度,控制和智能系统,人工智能和专家系统,模糊逻辑和神经网络,复杂的自适应系统。
计算机工程:
天线和波的传播,电信,无线和移动通信,信息理论和编码,通信电子和微波,雷达成像,分布式平台,通信网络和系统,远程信息处理服务,安全网络和无线电通信的调制和信号处理。
成像和传感器工程:
计算机体系结构,并行和分布式计算机,普适计算,计算机网络,嵌入式系统,人机交互,虚拟/增强现实,计算机安全,VLSI设计网络流量建模,性能建模,可靠的计算,高性能计算,计算机安全。
医学成像,磁共振成像(MRI),边界的癌症检测和成像,实时成像和视频处理,CMOS图像传感器,成像系统设计和仪器。
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